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16- title芯片软错误概率探究：基于汽车芯片安全设计视角_汽车_国科安芯-DAMO开发者矩阵
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- keywords芯片软错误概率探究：基于汽车芯片安全设计视角_汽车_国科安芯-DAMO开发者矩阵
- description本文深入剖析了芯片软错误概率问题，结合 AEC-Q100 与 IEC61508 标准，以 130 纳米工艺 1Mbit RAM 芯片为例阐述其软错误概率，探讨汽车芯片安全等级划分及软错误对汽车关键系统的影响，分析先进工艺下软错误变化趋势，并提出相应的应对策略，旨在为芯片在汽车等安全关键领域的应用提供理论参考与实践指导，保障电子系统可靠性。 国科安芯 DAMO开发者矩阵
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